 |
מפרט
מותג: Yint
דקה. הזמנה: חתיכה אחת
אריזה: בסליל
הסמכה: ROHS
יישום: MIPI, ממשק סידורי MHL במכשיר נייד.
פירוט מוצר
| חלק מס ' | שֵׁד. Com. (Ω) ± 25% @100MHz | DCR MAX. (Ω) | מדורג מקסימום נוכחי (MA) | מתח מדורג (v) | לעמוד במתח (v) | התנגדות לבידוד מינימום (MΩ) |
| YC2M1012B670FBP | 67 | 0.50 | 300 | 10 | 25 | 200 |
| YC2M1012B900FBP | 90 | 0.60 | 300 | 10 | 25 | 200 |
| YC2M1012B121FBP | 120 | 0.60 | 300 | 10 | 25 | 200 |
| מכשירי מבחן | Agilent E4991A RF עכבה / חומר ניתוח HP4338 Milliohmmeter Agilent E5071C ENA Series Series Analyzer Keithley 2410 1100V מד מקור | |||||
אמינות ומצב הבדיקה
| פריט מבחן | מצב מבחן | קריטריונים |
| מחזור טמפרטורה | A.Temperature: -40 ~ +85 ℃ B.Cycle: 100 מחזורים C.DWELL זמן: 30 דקות מדידה: בטמפרטורת הסביבה 24 שעות לאחר השלמת הבדיקה | A. no נזק מכני B. ערך עכבה צריך להיות בתוך ± 20 % מהערך הראשוני |
| חיים מבצעיים | טמפרטורה: 85 ℃ ± 5 ℃ B.Test זמן: 1000 שעות . | A. no נזק מכני B. ערך עכבה צריך להיות בתוך ± 20 % מהערך הראשוני |
| לחות מוטה | טמפרטורה: 40 ± 2 ℃ B.Humity: 90 ~ 95 % RH C.Test זמן: 1000 שעות D. זרם יוחס: מדידת זרם מדורג מלא: בטמפרטורת הסביבה 24 שעות לאחר השלמת הבדיקה | A. no נזק מכני B. ערך עכבה צריך להיות בתוך ± 20 % מהערך הראשוני |
| התנגדות לחום הלחמה | טמפרטורת A.Seder: 260 ± 5 ℃ B.flux: Rosin C.Dip זמן: 10 ± 1 שניות | א . |
| מבחן הזדקנות קיטור | טמפרטורה: 93 ± 2 ℃ זמן הבדיקה: 8 שעות טמפרטורה של C.Solder: 235 ± 5 ℃ D.flux: Rosin E.Dip זמן: 5 ± 1 שניות | יותר מ- 95 % מהאלקטרודה הטרמינלית צריכים להיות מכוסים בהלחמה חדשה |
יינט הוסמך עם הסמכת מערכת איכות ISO9001 בשנת 2007. החברה קיבלה ציוד ייצור ובדיקה מתקדם, כל המוצרים עומדים בדרישות ROHS; סדרות מוצרים רבות מוסמכות על ידי סוכנויות רגולטוריות בטיחות בינלאומיות, כמו UL, VDE, CSA וכו ', מדדי הביצועים הם ברמה המובילה בתעשייה.
תגיות חמות: YC2M1012B סדרת מצב נפוץ מסננים, סין, יצרנים, מפעל, מחיר, מסנני EMC EMI, מסנני מצב נפוץ של שבב, חונקים של מצב נפוץ, מסנני מצב נפוצים, חנק מצב נפוץ של SMD, חנק מצב נפוץ
מפרט
מותג: Yint
דקה. הזמנה: חתיכה אחת
אריזה: בסליל
הסמכה: ROHS
יישום: MIPI, ממשק סידורי MHL במכשיר נייד.
פירוט מוצר
| חלק מס ' | שֵׁד. Com. (Ω) ± 25% @100MHz | DCR MAX. (Ω) | מדורג מקסימום נוכחי (MA) | מתח מדורג (v) | לעמוד במתח (v) | התנגדות לבידוד מינימום (MΩ) |
| YC2M1012B670FBP | 67 | 0.50 | 300 | 10 | 25 | 200 |
| YC2M1012B900FBP | 90 | 0.60 | 300 | 10 | 25 | 200 |
| YC2M1012B121FBP | 120 | 0.60 | 300 | 10 | 25 | 200 |
| מכשירי מבחן | Agilent E4991A RF עכבה / חומר ניתוח HP4338 Milliohmmeter Agilent E5071C ENA Series Series Analyzer Keithley 2410 1100V מד מקור | |||||
אמינות ומצב הבדיקה
| פריט מבחן | מצב מבחן | קריטריונים |
| מחזור טמפרטורה | A.Temperature: -40 ~ +85 ℃ B.Cycle: 100 מחזורים C.DWELL זמן: 30 דקות מדידה: בטמפרטורת הסביבה 24 שעות לאחר השלמת הבדיקה | A. no נזק מכני B. ערך עכבה צריך להיות בתוך ± 20 % מהערך הראשוני |
| חיים מבצעיים | טמפרטורה: 85 ℃ ± 5 ℃ B.Test זמן: 1000 שעות . | A. no נזק מכני B. ערך עכבה צריך להיות בתוך ± 20 % מהערך הראשוני |
| לחות מוטה | טמפרטורה: 40 ± 2 ℃ B.Humity: 90 ~ 95 % RH C.Test זמן: 1000 שעות D. זרם יוחס: מדידת זרם מדורג מלא: בטמפרטורת הסביבה 24 שעות לאחר השלמת הבדיקה | A. no נזק מכני B. ערך עכבה צריך להיות בתוך ± 20 % מהערך הראשוני |
| התנגדות לחום הלחמה | טמפרטורת A.Seder: 260 ± 5 ℃ B.flux: Rosin C.Dip זמן: 10 ± 1 שניות | א . |
| מבחן הזדקנות קיטור | טמפרטורה: 93 ± 2 ℃ זמן הבדיקה: 8 שעות טמפרטורה של C.Solder: 235 ± 5 ℃ D.flux: Rosin E.Dip זמן: 5 ± 1 שניות | יותר מ- 95 % מהאלקטרודה הטרמינלית צריכים להיות מכוסים בהלחמה חדשה |
יינט הוסמך עם הסמכת מערכת איכות ISO9001 בשנת 2007. החברה קיבלה ציוד ייצור ובדיקה מתקדם, כל המוצרים עומדים בדרישות ROHS; סדרות מוצרים רבות מוסמכות על ידי סוכנויות רגולטוריות בטיחות בינלאומיות, כמו UL, VDE, CSA וכו ', מדדי הביצועים הם ברמה המובילה בתעשייה.
תגיות חמות: YC2M1012B סדרת מצב נפוץ מסננים, סין, יצרנים, מפעל, מחיר, מסנני EMC EMI, מסנני מצב נפוץ של שבב, חונקים של מצב נפוץ, מסנני מצב נפוצים, חנק מצב נפוץ של SMD, חנק מצב נפוץ
