Просмотры: 0 Автор: Редактор сайта Публикайте время: 2023-07-18 Происхождение: Сайт
Возможные режимы неудачи MOSFET в фотоэлектрическом оптимизаторе включает следующее:
1 、 Перегрев мощности мощности : если мощный мосфет работает при высокой нагрузке в течение длительного времени, это может привести к тому, что температура устройства будет выше, чем в диапазоне температуры номинального, и, таким образом, сбой
2 、 Грубое переключение: когда частота переключения московского мононца
3 、 демпфированное колебание: Когда комбинация индуктивности и емкости в фотоэлектрическом оптимизаторе создает резонанс, она может вызвать демпфированные колебания в мощном MOSFET.
4 、 Гальваническая эрозия или разбивка: если ток или напряжение в устройстве превышают номинальное значение MOSFET, это может вызвать электрическую эрозию или электрическую разбивку, в результате чего MOSFET не удастся.
5 、 Другие факторы: факторы окружающей среды, включая температуру, вибрацию, влажность и пыль, также могут влиять на надежность и срок службы мощности.
Фотоэлектрический оптимизатор мощности принимает уникальный программный алгоритм, который может отслеживать максимальную точку питания одного модуля в режиме реального времени. Пользователи могут выбирать различные типы оптимизатора питания в соответствии с фактическими условиями работы фотоэлектрической системы. , чтобы решить проблему снижения производства фотоэлектрических систем, вызванных затенением, различиями в ориентации компонентов или непоследовательным ослаблением компонентов, для достижения максимального выходного мощности и онлайн -мониторинга одного компонента и повышения эффективности системы.
