の可能性のある障害モード 太陽光発電オプティマイザーのMOSFET には、以下が含まれます。
1、電源 MOSFETの 過熱：電源MOSFETが長時間高負荷で動作する場合、デバイス温度が定格温度範囲よりも高くなる可能性があり、したがって故障する可能性があります。
2、ラフスイッチング：電源MOSFETスイッチング周波数が高い場合、スイッチングプロセス中にデバイス内で不十分な電荷蓄積が不十分な電荷の蓄積が不十分であることによって引き起こされる電流の中断またはちらつきの現象がある可能性があります。これはラフスイッチングと呼ばれます。
3、減衰振動：太陽光発電オプティマイザーにおけるインダクタンスと容量の組み合わせが共鳴を生成すると、パワーMOSFETの振動が減衰する可能性があります。
4.ガルバニック侵食または故障：デバイス内の電流または電圧がMOSFETの定格値を超えると、電気侵食または電気分解を引き起こし、MOSFETが故障します。
5、その他の要因：温度サイクリング、振動、水分、ほこりなどの環境要因も、電力MOSFETの信頼性と寿命に影響を与える可能性があります。
Photovoltaic Power Optimizerは、単一のモジュールの 最大電力点を リアルタイムで追跡できる一意のソフトウェアアルゴリズムを採用しています。ユーザーは、太陽光発電システムの実際の動作条件に応じて、さまざまな種類の電力オプティマイザーを選択できます。 、シェーディング、コンポーネントの方向の違い、または一貫性のないコンポーネント減衰によって引き起こされる太陽光発電システムの発電の減少の問題を解決し、単一のコンポーネントの最大出力とオンライン監視を達成し、システム効率を改善します。
