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JEDEC では最大 30 KV を要求しています。これは、一般的な静電気放電 (ESD) の電圧制限であるためです。
ESD は 2 つの物体間で発生する静電気放電であり、電子機器に損傷を与えたり、データ損失を引き起こす可能性があります。したがって、機器の信頼性と安定性を確保するために、JEDEC は 30 KV の静電気放電基準を定めました。この規格は、通常の動作および使用中に機器が許容できない静電気放電の影響を受けないことを確認するための実際のテストと経験に基づいています。
JE は、主に次の規格番号を含む、電子チップの静電気放電 (ESD) に関するいくつかの規格を開発しました。
1. JEDEC JESD22-A114: この規格は、人体モデル (HBM) ESD 方法および要件に対する集積回路 (IC) およびコンポーネントのテストを指定します。
2. JEDEC JESD22-A115: この規格は、拡散モデル (CDM) ESD の IC およびコンポーネントのテスト方法と要件を指定します。
3. JEDEC JESD22-C101: この規格は、システム レベル モデル (MM) ESD の IC およびコンポーネントのテスト方法と要件を指定します。
これらの規格は、チップが ESD イベント下で安全に動作できることを保証するために、ESD テストの条件、装置、およびテスト手順を定義します。各規格は、異なる ESD 電圧モデルに対して異なるテスト方法とテスト パラメータを指定しています。
